盡管對于大部分工程師而言，使用電子負(fù)載已經(jīng)非常得心應(yīng)手。然而，當(dāng)面對復(fù)雜的測試環(huán)境時(shí)，還是會碰到很多的難題和困擾，例如設(shè)備突然過流保護(hù)、過功率保護(hù)、亦或是出現(xiàn)帶載震蕩等現(xiàn)象。
  當(dāng)排除了操作設(shè)置順序或使用模式不對等問題后，您或許要進(jìn)一步考慮是否是DUT和負(fù)載之間特性不匹配所導(dǎo)致，也許您在實(shí)驗(yàn)室更換一個(gè)DUT后測試就變得正常。ITECH為了讓負(fù)載匹配更多不同特性的DUT，創(chuàng) 新地研發(fā)了模擬和數(shù)字控制相結(jié)合CV環(huán)控制技術(shù)。工程師可以通過調(diào)節(jié)負(fù)載的CV環(huán)路速度，以更好地匹配不同環(huán)路特性的待測產(chǎn)品，提升設(shè)備利用率，節(jié)省您寶貴的研發(fā)和調(diào)試時(shí)間。