IT6400用于Micro LED集成測(cè)試

IT6400用于 Micro LED 集成測(cè)試越來越多的手機(jī)、電視廠商將目光投向Micro LED 技術(shù)。 Micro LED 即LED 微縮技術(shù)，是指將傳統(tǒng) LED 數(shù)組化、微縮化后尋址巨量轉(zhuǎn)移到電路基板上，形成超小間距 LED ，將毫米級(jí)別的 LED 長(zhǎng)度進(jìn)一步微縮到微米級(jí)，以達(dá)到超高像素、超高解析率，理論上能夠適應(yīng)各種尺寸屏幕的技術(shù)。

Micro LED具備無(wú)需背光源、能夠自發(fā)光的特性，與 OLED 相似，但相比OLED Micro LED 色彩更容易準(zhǔn)確的調(diào)試，有更長(zhǎng)的發(fā)光壽命和更高的亮度但功耗比LCD低90%90%，是OLED的一半 ?；蛟S能成為 OLED 之后下一代顯示技術(shù)。
顯示器的缺陷檢測(cè)是非常重要的一項(xiàng)測(cè)試，但目前的檢測(cè)測(cè)量仍保持在宏觀水平，不能用于精確測(cè)量 Micro LED 數(shù)組，而且用于評(píng)估 Micro LED 數(shù)組亮度的方法集中在總亮度的測(cè)量上，未能快速檢測(cè) Micro LED 數(shù)組中的壞像素。因此尋找一種快速、精確的方法來檢查 Micro LED 的表面亮度是非常有必要的。
Micro LED數(shù)組的亮度測(cè)量
ITECH某系統(tǒng)集成商用戶為Micro LED提供缺陷檢測(cè)測(cè)試系統(tǒng)，工作原理為：
1.使用圖像傳感器將包含著目標(biāo)物亮度信息的電信號(hào)轉(zhuǎn)換成圖像。利用標(biāo)準(zhǔn)亮度計(jì)檢測(cè)待測(cè)物的亮度，獲得灰度與亮度的關(guān)系，便可以通過曝光時(shí)間和拍攝到的圖片快速得到待測(cè)物的亮度。

2.通過裝置拍攝工作狀態(tài)下Micro LED數(shù)組的圖片，經(jīng)過編寫的軟件便可得到不同芯片的平均亮度。例如8號(hào)芯片的亮度僅為相同電壓下其余芯片的三分之一，可確定8號(hào)芯片異常。因此，該系統(tǒng)既可以定量檢Micro LED數(shù)組的工作狀態(tài)，也可以用于快速檢測(cè)Micro LED數(shù)組的壞點(diǎn)。

3.形成不同電流下單顆Micro LED芯片的亮度偽彩圖和亮度3D分布圖。通過調(diào)節(jié)供電電流，如10uA、100uA、1000uA等參數(shù)，可以改變Micro-LED芯片表面亮度的均勻性，形成不同的亮度效果，對(duì)產(chǎn)品性能進(jìn)行研究?？梢钥吹皆?000 uA驅(qū)動(dòng)電流的情況下，更多的點(diǎn)位于平均亮度附近。

ITECH可為Micro LED測(cè)試提供高分辨率高精度的供電電源。IT6400系列快動(dòng)態(tài)響應(yīng)時(shí)間小于20 us，電流顯示解析度可達(dá)1nA ，電流紋波小于2uArms， LED測(cè)試無(wú)過流，標(biāo)配有LAN/USB/GPIB通信接口，適用于LED行業(yè)測(cè)試。

IT-M3200高精度可編程直流電源，60V-600V電壓范圍，100W、200W、360W功率，適用于系統(tǒng)集成批量測(cè)試。在? U的Mini體積里兼顧了大功率和低紋波輸出，同時(shí)具備動(dòng)態(tài)負(fù)載響應(yīng)能力，提供多檔位電流量程切換，滿足用戶從安培級(jí)別到微安級(jí)別電流的多種量測(cè)需求，使用起來更加簡(jiǎn)易有效。

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